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單晶硅片質(zhì)量對(duì)太陽(yáng)能電池性能的影響

發(fā)布時(shí)間:2016/6/2 9:00:20 點(diǎn)擊量:2807
導(dǎo)讀:近年來(lái)隨著光伏發(fā)電行業(yè)下游應(yīng)用市場(chǎng)的不斷擴(kuò)大,硅片市場(chǎng)的需求也在不斷提高。而太陽(yáng)能電池片主要由硅片組成, 其中硅片質(zhì)量的好壞直接影響太陽(yáng)能電池片的綜合性能。在晶硅系列太陽(yáng)能電池中,單晶硅電池內(nèi)部晶體結(jié)構(gòu)特征決定了其轉(zhuǎn)換效率明顯高于多晶硅電池。但是單晶硅電池內(nèi)部存在的晶體缺陷和內(nèi)部雜質(zhì)等質(zhì)量問(wèn)題,同樣也會(huì)影響太陽(yáng)能電池的轉(zhuǎn)換效率。

       近年來(lái)隨著光伏發(fā)電行業(yè)下游應(yīng)用市場(chǎng)的不斷擴(kuò)大,硅片市場(chǎng)的需求也在不斷提高。而太陽(yáng)能電池片主要由硅片組成, 其中硅片質(zhì)量的好壞直接影響太陽(yáng)能電池片的綜合性能。在晶硅系列太陽(yáng)能電池中,單晶硅電池內(nèi)部晶體結(jié)構(gòu)特征決定了其轉(zhuǎn)換效率明顯高于多晶硅電池。但是單晶硅電池內(nèi)部存在的晶體缺陷和內(nèi)部雜質(zhì)等質(zhì)量問(wèn)題,同樣也會(huì)影響太陽(yáng)能電池的轉(zhuǎn)換效率。

 

一、 單晶硅片質(zhì)量對(duì)電池性能的影響

1、少子壽命的影響

少子壽命是目前晶硅電池特征常規(guī)測(cè)試的參數(shù)之一。本次研究選取某批單晶硅片進(jìn)行實(shí)驗(yàn), 將單晶硅片進(jìn)行初次分選后, 按正常生產(chǎn)工藝做成電池片,測(cè)量少子壽命對(duì)電池效率的影響關(guān)系如圖 1 所示。由圖可見(jiàn),少子壽命值越大, 轉(zhuǎn)換效率越高, 相應(yīng)的晶硅材料的內(nèi)部雜質(zhì)和晶體缺陷也就越少。引起少子壽命降低的原因是光照或電流注入導(dǎo)致硅片中的硼和氧形成硼氧復(fù)合體,但經(jīng)過(guò)退火處理后,少子壽命即可恢復(fù)。

 

2、早期光致衰減的影響

大量科學(xué)研究發(fā)現(xiàn)硅片中的硼氧濃度是造成電池片早期光致衰減的主要因素, 而光伏組件的光致衰減主要是由各個(gè)電池片的光致衰減不一致造成的。雖然分選電池片時(shí)各個(gè)電池片的電性能一致,但經(jīng)過(guò)光照后,電性能出現(xiàn)了較大偏差,從而引起組件特性異常和熱斑現(xiàn)象,最終導(dǎo)致組件的早期失效。


圖 1 少子壽命與電池效率對(duì)應(yīng)關(guān)系圖

 

將質(zhì)量較差的單晶硅片按正常生產(chǎn)工藝做成初始效率為 16% 的電池片,經(jīng)節(jié)能燈光照 1.5 h 后,測(cè)試效率最高的為 15.4%,最低的僅為 13.0%,衰減比率介于 3.75% ~ 18.75% , 如圖 2 所示。把上述電池片重新分選, 按分選后電池片轉(zhuǎn)換效率的分布情況做成 14 塊組件, 陽(yáng)光光照 1 d 和 2 d 后的功率對(duì)比如圖 3 所示。早期光致衰減試驗(yàn)結(jié)果表明:

(1) 在光伏組件生產(chǎn)過(guò)程中,如果電池片不經(jīng)過(guò)預(yù)衰減和二次分選而直接做成組件,在各個(gè)組件內(nèi)會(huì)包含衰減較為嚴(yán)重的那部分電池片,直接導(dǎo)致組件特性異常和熱斑現(xiàn)象,從而影響組件的整體性能。

(2) 雖然普通的節(jié)能燈光照后的電池片做成的組件在陽(yáng)光光照后仍會(huì)出現(xiàn)較大的衰減,但是通過(guò)節(jié)能燈光照二次分選后的電池片效率的均勻性基本得到了保障。

      (3) 初始分選效率 16% 的電池片經(jīng)過(guò)光致衰減后,最終做成的組件功率最大僅 155.71 W, 最小為143.78 W,而理論上可做成組件的功率為172 W,衰減比率達(dá) 9.47% ~ 16.40% 。


3、早期光致衰減的解決方案

(1) 改善硅單晶質(zhì)量。硅片自身的質(zhì)量對(duì)太陽(yáng)能電池的早期光致衰減有決定性作用,可采取的措施有: ①利用磁控直拉單晶硅工藝生產(chǎn)單晶硅棒; ②使用摻磷的 N 型硅片; ③改善摻雜工藝,比如摻雜工藝過(guò)程中用鎵元素代替硼元素。

(2) 光照預(yù)衰減后進(jìn)行二次分選。在組件制造前對(duì)電池片進(jìn)行光照預(yù)衰減后進(jìn)行二次分選,這樣不僅可以控制組件的衰減,同時(shí)還能大幅度減少光伏組件出現(xiàn)熱斑的幾率,從而提高光伏組件的整體性能。

 

二、位錯(cuò)對(duì)電池性能的影響

位錯(cuò)是晶體內(nèi)部缺陷之一,位錯(cuò)密度的大小直接影響電池片的性能。

1、組件 EL 測(cè)試

通過(guò)選用某低檔電池片做成光伏組件進(jìn)行EL測(cè)試,在通電情況下電池片中一部分發(fā)出的 1150nm紅外光相對(duì)較弱,說(shuō)明硅襯底少子壽命明顯偏低,造成了大量黑心和黑斑,如圖 4 所示。

 


圖 4 組件 EL 測(cè)試

 

2、組件電性能測(cè)試

圖 5 為上述組件電性能測(cè)試結(jié)果。圖中組件短路電流 Isc為 4.588A,明顯偏低此類(lèi)正常組件短路電流 Isc( 一般為 5.200 A) ,最大功率 Pmax 為 143.028 W明顯偏低于此類(lèi)正常組件最大功率 Pmax ( 一般大于175W) ,功率嚴(yán)重下降,說(shuō)明上述某低檔電池片做成的光伏組件中存在著大量低性能電池片。


圖 5 光照條件組件電性能測(cè)試

 

3、硅片少子壽命測(cè)試

上述電池片經(jīng)過(guò)工藝處理成硅片后,EL測(cè)試結(jié)果表明其存在大量黑心和黑斑區(qū)域, 說(shuō)明少子壽命明顯偏低,如圖 6 所示。


圖 6 電池片 EL 測(cè)試

 

4、硅片位錯(cuò)密度測(cè)試

選取上述 2 片硅片經(jīng)化學(xué)工藝腐蝕后,其形貌如圖7所示。


圖 7 化學(xué)腐蝕后硅片形貌

 

測(cè)試化學(xué)工藝腐蝕后的硅片位錯(cuò)密度。其中:一硅片“黑心內(nèi)” 位錯(cuò)密度高達(dá) 1E6 ~ 1E7個(gè)/cm2;另一硅片黑斑區(qū)域位錯(cuò)密度達(dá) 1E5 ~ 1E6 個(gè)/cm2。綜上所述,硅片中極高的位錯(cuò)密度最終會(huì)導(dǎo)致電池片性能的嚴(yán)重下降。

 

三、總結(jié)

    硅片是晶體硅太陽(yáng)能電池片最基本的材料,其質(zhì)量直接決定了電池片的整體性能。一方面,硅片的外觀缺陷和表面質(zhì)量影響電池的制造和外觀;另一方面,硅片的晶體內(nèi)部缺陷和雜質(zhì)直接影響電池的效率和穩(wěn)定性。只有不斷改善和提高硅片的整體質(zhì)量,才能保障太陽(yáng)能電池片和組件的質(zhì)量和性能。